迷你型紫外照度計(jì)規(guī)格參數(shù)描述 
專業(yè)，高質(zhì)量的紫外線儀器。 
紫外線照射測(cè)量含UV 
紫外線偵測(cè)器光譜從290 nm to 390 nm. 
測(cè)量范圍：3999微瓦/平方公分和39.99瓦/平方公分 
建立零按鈕。 
微處理器電路提供高可靠性和耐久性 
獨(dú)立紫外線偵測(cè)允許用戶測(cè)量紫外線光在一個(gè)的位置 
液晶顯示，容易讀數(shù) 
過載顯示的OL 
預(yù)設(shè)自動(dòng)關(guān)機(jī)時(shí)間為約15分鐘 
測(cè)量:有1uW/cm2, 1mW/cm2可供選擇 
專業(yè)，高品質(zhì)的紫外線儀器 
紫外線照射測(cè)量含UV 
測(cè)量范圍：0~3999uW/cm2，0~39.99mW/cm2 
感應(yīng)器波長：290-390nm，中心波長：365 nm 
分辨率1uW/cm2，0.01mW/cm2 
讀值鎖定，背光顯示，定位轉(zhuǎn)換，歸零功能 
量程指示：顯示“OL” 
 迷你型紫外照度計(jì)低電壓顯示 
應(yīng)用廣泛。 
TM-213 UVAB紫外線強(qiáng)度計(jì)規(guī)格： 
型號(hào)TM-213 
顯示3-3/4位4000大讀值，背光功能 
測(cè)量范圍0~3999uW/cm2，0~39.99mW/cm2 
解析度1uW/cm2，0.01mW/cm2 
準(zhǔn)確度±(4%FS + 2dgt) 
波長范圍290-390nm 
中心波長365 nm 
采樣時(shí)間3次/ 每秒 
感應(yīng)器UV光二體及UV濾光片 
量程指示顯示“OL” 
EMC儀器的設(shè)計(jì)符合EMC標(biāo)準(zhǔn)，而且依照EN61326（1997）+A1(1998)+A2(2001)執(zhí)行相容性測(cè)試。 
操作溫度/濕度5~40度，80%R.H以下。 
儲(chǔ)存溫度/濕度-10~60度，70%R.H以下。 
電源2節(jié)1.5V AAA電池 
電池壽命約50小時(shí) 
重量約 90克 
尺寸133（長）mm × 48（寬）mm × 23（高）mm 
附件使用說明書，皮套，1.5V電池*2節(jié)

產(chǎn)品名稱：母合金精密電阻率測(cè)試儀 產(chǎn)品型號(hào)：RTY-WSP-21

母合金精密電阻率測(cè)試儀型號(hào)：RTY-WSP-21

硅料分選檢驗(yàn)綜合儀是一款為拉單晶廠和多晶鑄錠廠商硅料分選、檢驗(yàn)、檢測(cè)而設(shè)計(jì)的。它可以快速準(zhǔn)確測(cè)量硅料的電阻率。可以檢測(cè)所有類型的硅料：母合金摻雜濟(jì)電阻率檢測(cè)可以精確到0.0001-199.99Ω﹡㎝，及各種碎片料、米粒料、片料，塊料，頭尾料、堝底料、邊皮料等等。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

■電阻率測(cè)量：大屏幕清晰顯示硅料電阻率值，方便檢料工快速分選

■ 電流測(cè)量：本儀器采用良好芯片技術(shù)，可通過調(diào)節(jié)硅材料厚度，儀器可直接鎖定電流，使測(cè)量使用更加簡便準(zhǔn)確，本儀器可根據(jù)需要配備測(cè)試平臺(tái)， 利用測(cè)試平臺(tái)可以測(cè)試薄片電阻率

■ 四探針：一次測(cè)量，顯示完整電阻率值。

■ 采用了*的恒流源技術(shù)，能夠滿足寬范圍的電阻率測(cè)試要求

推薦工作條件

■ 溫度：23±2℃

■ 濕度：60%~70%

■ 無強(qiáng)磁場(chǎng)、不與高頻設(shè)備鄰近

 技術(shù)指標(biāo):

■ 高阻電阻率量程：0.01~199.99Ω﹡㎝　　低阻電阻率量程：0.0001~1.9999Ω﹡㎝　

■ 高阻測(cè)量精度：精確到十分位（即精確到小數(shù)點(diǎn)后一位）

   低阻測(cè)量精度：精確到千分位（即精確到小數(shù)點(diǎn)后四位）

   注：低阻一般用于測(cè)量低于0.1  0Ω﹡㎝以下硅料，如母合金，高于0.1  0Ω﹡㎝一般用高阻測(cè)量。

使用方法：

接好電源線，將儀器接上220V交流電，供電，若無電則需要檢查或更換在儀器后面的電源插頭處的保險(xiǎn)絲，規(guī)格為1A,或檢查電源線是否插好。

電阻率測(cè)量：

低阻測(cè)試：

1，面板高阻低阻切換撥動(dòng)開關(guān)指向低阻方向，通過按動(dòng)面板綠色按鈕，使面板數(shù)顯表小數(shù)點(diǎn)調(diào)到0.0000狀態(tài)，測(cè)量時(shí)顯示為電阻率值，

2，校厚：四探針針頭壓住待測(cè)樣片，根據(jù)所測(cè)硅料厚度調(diào)動(dòng)按鈕至所要求厚度，

按鍵調(diào)動(dòng)開關(guān)調(diào)動(dòng)硅材料厚度，硅材料厚度小于3.98mm按實(shí)際厚度對(duì)照厚度調(diào)節(jié)按鈕調(diào)節(jié)，如2.18就調(diào)到218，厚度大于3.98的都調(diào)到3。98，厚度調(diào)好后直接測(cè)試即可

高阻測(cè)試：

1，面板撥動(dòng)開關(guān)指向高阻方向，面板數(shù)顯表小數(shù)點(diǎn)調(diào)到000。00狀態(tài)，不需按動(dòng)綠色按鈕。

2，校準(zhǔn)設(shè)備：所測(cè)硅材料厚度小于3.98mm的對(duì)照國家標(biāo)準(zhǔn)電阻率電流修正系數(shù)表來調(diào)動(dòng)儀器上方電流表，根據(jù)厚度所對(duì)應(yīng)的電流系數(shù)來調(diào)節(jié)電流表，厚度大于3.98mm的電流統(tǒng)一調(diào)到0.6283即可。

    測(cè)試四探針筆維護(hù)：

1一般情況下，更換鋼針之類，不需要拆開探頭，只需要用拔出要更換的鋼針，再重新安裝新針，如果斷針在孔內(nèi)并且不拆開難以取出，必須按照以下步驟進(jìn)行操作：

A先松開筆身尾部端側(cè)面的固定小螺絲，輕輕脫下尾部航空插口，保證探針頭部旋轉(zhuǎn)時(shí)同步旋轉(zhuǎn)，防止扭線斷線，短接，

B輕輕擰開探針頭子，然后小心將銅片拉出，記住七片緣片與銅片之間的位置，（四片銅片每片見夾一片緣片，兩邊的銅片外側(cè)各兩片），將斷針從銅片卡口座里取下即可，

C特別注意一定不能將銅片取下時(shí)的位置錯(cuò)亂，銅片位置按照航空頭四芯1234接線綠紅黃黑的順序一字排列，并且銅片之間按照寬窄順序互相交叉排列，以免短接。

D安裝時(shí)銅片及緣片按照拆下時(shí)的排列輕輕塞進(jìn)探針頭子，并先將探針頭子擰緊，再將尾部航空頭插上，并且旋緊小螺絲，

E將針裝好，注意針頭針尾方向，尖頭為探針頭部

注意事項(xiàng)：

1儀器操作前請(qǐng)您仔細(xì)閱讀使用說明書，規(guī)范操作。

2輕拿輕放，避免儀器震動(dòng)，水平放置，垂直測(cè)量，

3儀器不使用時(shí)請(qǐng)切斷電源，連接線無需經(jīng)常拔下，避免灰塵進(jìn)入航空插引起短接等現(xiàn)象，

4探針筆測(cè)試結(jié)束，套好護(hù)套，避免人為斷針，